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EDS는 Energy-Dispersive X-ray Spectroscopy(에너지 분산 X-선 분광법)의 약어입니다. 이 기술은 전자 미세 분석기의 일부로 사용되며, 시료에서 X-선을 생성하여 시료 내의 원소의 존재와 분포를 분석하는 데 사용됩니다. 장비명 EDS (Energy Dispersive X-ray Spectrometer) Bruker – EDS EDS 대표 분석물질 원소를 포함하고 있는 모든 물질 분석 할수 있는 것들 분석결과 및 가능 분석 <EDS분석 결과> EDS 의 … Read more

대다수의 화학공정들은 실온이 아닌 특정 온도를 유지하는 공정들이 많이 존재한다.또는 고온 상태에서 공정을 진행하는 경우도 다수 존재한다. 이 경우 공정에서 사용되는물질이 특정 온도대에서 어떤 기화 특성을 보이는지가 중요하다. STA-MS는 TGA/DSC or DTA/Mass를 결합한 장비로써, 시료에 온도를 가하여 샘플의 질량 변화 및 열량 변화를 온도의 함수로 나타냄과 동시에 재료의 열분해를 통해 배출되는 가스의 질량을 측정하여 생성 … Read more

Silicon의 어원 “Silicon”이라는 용어는 라틴어 단어 “silex”에서 비롯되었습니다. “Silex”는 “암석”이나 “천문석”을 의미합니다. Silicon 발견의 서막 때는 1808년 어느 한적한 영국. 한 사내가 엄청난 실험을 하고 있었다. 그의 이름은 ‘험프리 데이비'(Humphry Davy) 영국 화학계는 그를 주목하고 있었다. 바로 그가 산소를 독립적으로 발견한 인물이기 때문이다. 그의 즐거움 중에 하나는 전기 분해 였다. “아..전기 분해 고프다. 뭘 분해해 … Read more

XRF는 X 선을 이용하여 유기물과 무기물 원소에 대한 정성 및 정량분석을 하는데 사용합니다 .시료를 산화용액으로 처리 ( 전처리 ) 하지 않고서도 비파괴 분석을 할 수 있습니다 .정말 가장 강력한 기능이죠. 그리고 분석의 꿈 “비파괴🥰” 가 가능한 장비죠. 장비명 XRF(X-ray Fluorescence, X-선 형광분석) <Rigaku– ZSX Primus II> XRD 대표 분석물질 원소 B( 원자번호 : 5) 에서 U( 원자번호 : 92) 까지의 전 원소를 미량까지 분석*단, Carbon은 선택적으로 장비의 상태나 기호에 따라 … Read more

ASTM F950-98(Standard Test Method for Measuring the Depth of Crystal Damage of a Mechanically Worked Silicon Slice Surface by Angle Polishing and Defect Etching)를 기반으로 한 기술로써 가공된 시료의 잔류 Damage 를 모서리 가공을 통해 확인하는 방법 가공 damage를 보는 직관적인 기술로써 가공으로 인한 damage 확인이 가능하다. 공정명 Damage depth 분석 할수 있는 것들 Silicon, Quartz … Read more

이온화합물을 분리,분석하는 장비입니다.우선 이온(ion)이라는 것부터 알아볼까요.🤓 대표적으로 양이온(+)과 음이온(-)이 존재합니다.아래 표로 구분해 놓았습니다. 구분 내용 양이온 (Cation) 전자를 잃어버린 원자나 분자 음이온 (Anion) 전자를 얻은 원자나 분자 그럼 누가 양이온이 되고 누가 음이온이 되는 걸까요?자 우리가 좋아하는 주기율표입니다.😀 ‘왜 갑자기 주기율표죠?😠 라는 분도 계시겠지만 원자의 구분을 통해서 양이온 파와 음이온 파를 확인할 수 있습니다. 간략히 … Read more